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膜厚測量儀

膜厚測量儀(厚度范圍1nm~10mm)Filmetrics F20單點(diǎn)薄膜透明膜半透明膜厚度測量儀膜厚儀多波長橢偏儀/膜厚測量儀半導(dǎo)體/薄膜無損檢測儀 顯示全部
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手持式膜厚測量儀-MProbe 20 HC(彎曲表面)

  • 手持式膜厚測量儀-MProbe 20 HC(彎曲表面)
手持式弓颈,大件,彎曲表面膜厚測量——更簡單删掀,更可靠驰贷!

所屬類別:光學(xué)檢測設(shè)備 ? 膜厚測量儀

所屬品牌:美國Semiconsoft公司

產(chǎn)品負(fù)責(zé)人:

姓名:李工(Maple)

電話:130 2028 5269(微信同號)

郵箱:qiang-li@auniontech.com

手持式膜厚測量儀-MProbe 20 HC(彎曲表面)

 

 

手持式膜厚測量儀-MProbe 20 HC(彎曲表面)基于MProbe 20 平臺可以輕松測量曲面和大型零件的薄膜厚度吊圾,MProbe 20 具有專為單層和雙層應(yīng)用優(yōu)化的數(shù)據(jù)分析算法。它還使用手動探針代替樣品臺。手動探頭通過光纖電纜連接到測量單元园蝠。這為在任何位置的彎曲和大表面上測量厚度提供了靈活性。一些應(yīng)用實(shí)例包括:抗紫外線和頭燈,保險(xiǎn)杠泽论,尾燈蓋的硬涂層,防霧涂層上的透鏡和其他表面在汽車制造在眼鏡鏡片上進(jìn)行加工和鍍膜卡乾。標(biāo)準(zhǔn)手動探頭用于測量 20mm 或更大的零件翼悴。可以使用定制探頭測量小至 10mm 區(qū)域的涂層厚度说订。對于較小或圓形/圓柱形零件的厚度測量抄瓦,我們推薦MProbe 40 MSP系統(tǒng)


 


手持式膜厚測量儀-MProbe 20 HC(彎曲表面)
測量特點(diǎn):

1.支持底漆或界面 (IPL) 層陶冷;

2.曲面和/或大型零件的厚度測量钙姊;

3.可以測量有色產(chǎn)品埂伦,校正背面反射煞额;

4.材料:500多種擴(kuò)展材料數(shù)據(jù)庫;

5.一鍵可靠測量沾谜。 


 手持式膜厚測量儀-MProbe 20 HC(彎曲表面)規(guī)格指標(biāo):

精度

0.01nm0.01%

準(zhǔn)確度

0.2%1nm

穩(wěn)定性

0.02nm0.03%

聚焦點(diǎn)尺寸

0.2mm0.4mm

樣品尺寸

>20mm

厚度范圍

0.05-70um

波長范圍

400-1000nm

*可根據(jù)要求設(shè)計(jì)定制探頭



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產(chǎn)品標(biāo)簽:膜厚測量,車燈鍍膜測量,橢偏儀,光譜反射儀,膜層厚度測量儀,膜層厚度,F20,F10-HC,彎曲表面厚度測量,薄膜厚度,膜厚測量儀,多層薄膜,手持式厚度測量

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