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橢偏儀與偏振相位(五)-相位延遲量測(cè)量的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)

發(fā)布時(shí)間:2023-10-13 10:47:12 瀏覽量:2999 作者:Alex

摘要

建立了用于波片位相延遲測(cè)量的高精度多功能測(cè)試系統(tǒng)腿堤,實(shí)現(xiàn)了在同一測(cè)試系統(tǒng)上應(yīng)用不同的測(cè)試方法,使測(cè)試具有可比性如暖。對(duì)光譜掃描法笆檀、Soleil補(bǔ)償器法及兩種光強(qiáng)法進(jìn)行了比較測(cè)量,并結(jié)合測(cè)試結(jié)果對(duì)各種方法進(jìn)行了系統(tǒng)的誤差分析盒至。

正文


橢偏儀與偏振相位(五)-相位延遲量測(cè)量的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)


實(shí)驗(yàn)中酗洒,在前述測(cè)試系統(tǒng)上用上述幾種方法測(cè)量了兩片樣品的位相延遲。兩測(cè)試樣品標(biāo)稱值分別為:630.2nm附近的λ/2波片和532.4nm附近的λ/4波片枷遂。光譜掃描曲線見圖1樱衷,測(cè)量數(shù)據(jù)見表1、2酒唉。


圖1 光譜法測(cè)630.2nm附近λ/2波片的掃描曲線


前面誤差分析表明矩桂,光譜法測(cè)量λ/2波片的誤差zui小,因而可以作為參考標(biāo)準(zhǔn)痪伦,其它方法測(cè)量結(jié)果可以與之相比較侄榴。由測(cè)量結(jié)果可見雹锣,光譜法與Soleil補(bǔ)償器法測(cè)得結(jié)果的偏差約為0.19%,兩種方法在誤差范圍內(nèi)符合很好癞蚕,得到了相互印證蕊爵。而兩種光強(qiáng)法的測(cè)量結(jié)果比照光譜法及Soleil補(bǔ)償器法測(cè)量結(jié)果差異較大。而且按照之前推導(dǎo)的公式無(wú)法判斷λ/2波片的延遲是小于還是>180°桦山,因此在括號(hào)中給出了>180°的情況攒射。特別值得注意的是,由于Glan棱鏡及光路缺陷對(duì)旋轉(zhuǎn)檢偏器法影響非常嚴(yán)重恒水,導(dǎo)致λ/4波片的測(cè)量出現(xiàn)錯(cuò)誤会放,表明本測(cè)試系統(tǒng)不適用旋轉(zhuǎn)檢偏器法。


表1 用不同方法測(cè)量630.2am附近g/2波片延遲結(jié)果


表2用不同方法測(cè)量532.4am附近g/4波片延遲結(jié)果


*表示由于Glan棱鏡及光路缺陷對(duì)旋轉(zhuǎn)檢偏器法影響非常嚴(yán)重寇窑,導(dǎo)致λ/4波片的測(cè)量出現(xiàn)錯(cuò)誤鸦概,表明本測(cè)試系統(tǒng)不適用旋轉(zhuǎn)檢偏器法。


在所采用的實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)前提下甩骏,我們對(duì)光譜掃描法窗市、Soleil補(bǔ)償器法和兩種光強(qiáng)法進(jìn)行了對(duì)比測(cè)試及誤差分析。由于測(cè)試誤差來(lái)源于同一測(cè)試系統(tǒng)饮笛,所以便于對(duì)各種誤差和不同測(cè)量方法做系統(tǒng)的研究和比較咨察。分析得出:


(1) 光譜掃描法測(cè)波片的誤差源較少,在測(cè)量λ/2波片時(shí)福青,只需要從光譜曲線的極值就可以準(zhǔn)確測(cè)定延遲值摄狱,其測(cè)量誤差主要來(lái)源于單色儀精度,誤差<0.032%无午。由于不需要測(cè)量絕對(duì)光強(qiáng)值媒役,因而對(duì)光路有較大的寬容性,并可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)試宪迟。


(2) Soleil補(bǔ)償器法測(cè)量延遲與光譜法相似酣衷,只要求找到透過(guò)光強(qiáng)zui小值位置,因而同樣具有較好的寬容性次泽。其誤差主要由補(bǔ)償器自身的精度決定穿仪,本實(shí)驗(yàn)的補(bǔ)償器誤差<0.18%。對(duì)λ/2波片測(cè)量結(jié)果顯示Soleil補(bǔ)償器法與光譜掃描法測(cè)試結(jié)果在其精度范圍內(nèi)很好地相互印證意荤。但由于補(bǔ)償法需要由等偏離法提高精度啊片,因而不易實(shí)現(xiàn)計(jì)算機(jī)自動(dòng)化測(cè)試。


(3)各種光強(qiáng)法測(cè)量誤差與待測(cè)波片的延遲量有關(guān)玖像,雖然易于實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)試紫谷,但是由于需要讀取系統(tǒng)出射光的絕對(duì)光強(qiáng)值,因而對(duì)光路及光學(xué)元件等都有較高的要求,特別是Glan棱鏡及光路的缺陷對(duì)旋轉(zhuǎn)檢偏器法影響非常嚴(yán)重碴里。這些也正是光強(qiáng)法測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生較大差異的原因所在沈矿,因而在本文所述的實(shí)驗(yàn)條件下,光強(qiáng)法較難實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量咬腋。

 

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相關(guān)文獻(xiàn):

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