二維應(yīng)力成像儀
超精密光學(xué)應(yīng)力測(cè)量設(shè)備-硫系玻璃及Si,SiC,GaN等應(yīng)力測(cè)量
Hinds液晶面板應(yīng)力分布測(cè)量系統(tǒng)
非球面透鏡應(yīng)力雙折射測(cè)量系統(tǒng)
橢偏儀與偏振相位(六)- 精確測(cè)量波片相位延遲量的原理
橢偏儀在位表征電化學(xué)沉積的系統(tǒng)搭建(二十三)- 全波段沉積過(guò)程的準(zhǔn)在位測(cè)試分析-不同沉積時(shí)間所對(duì)應(yīng)的
橢偏儀與偏振相位(三)-補(bǔ)償法的原理及誤差分析
橢偏儀在位表征電化學(xué)沉積的系統(tǒng)搭建(二十)- 長(zhǎng)方形流動(dòng)微腔
偏振測(cè)量技術(shù)介紹
橢偏儀在位表征電化學(xué)沉積的系統(tǒng)搭建(十七)- 系統(tǒng)誤差與醋酸鉛實(shí)驗(yàn)
橢偏成像技術(shù)(六)橢偏成像技術(shù)在材料學(xué)和半導(dǎo)體的應(yīng)用
橢偏儀在位表征電化學(xué)沉積的系統(tǒng)搭建(十四)- 在位監(jiān)控裝置的設(shè)計(jì)
橢偏成像技術(shù)(二)- 從單波長(zhǎng)橢偏成像到光譜橢偏成像
橢偏儀在位表征電化學(xué)沉積的系統(tǒng)搭建(十一)- 工作電極的制備與橢偏儀在位監(jiān)控
光譜型橢偏儀的校準(zhǔn)(二)-橢偏儀的基本原理
橢偏儀在位表征電化學(xué)沉積的系統(tǒng)搭建(八)- 溶液的影響和固液界面的影響
橢偏儀在位表征電化學(xué)沉積的系統(tǒng)搭建(二十四)- 全波段沉積過(guò)程的準(zhǔn)在位測(cè)試分析-不同時(shí)間所測(cè)試的光學(xué)
橢偏儀(八)-橢偏儀測(cè)量薄膜的優(yōu)點(diǎn)和特點(diǎn)
橢偏儀在位表征電化學(xué)沉積的系統(tǒng)搭建(五)-Pb和Cu2O薄膜的電化學(xué)沉積
光譜型橢偏儀的校準(zhǔn)(一)-橢偏儀校準(zhǔn)思路
橢偏儀(三)-橢偏測(cè)量原理
橢偏儀在位表征電化學(xué)沉積的系統(tǒng)搭建(二)-在位監(jiān)控原理
光譜型橢偏儀的校準(zhǔn)(五)-樣片的制備與穩(wěn)定性考核
橢偏儀與偏振相位(十一)-斯托克斯橢偏儀的偏振定標(biāo)測(cè)量實(shí)驗(yàn)
橢偏儀在位表征電化學(xué)沉積的系統(tǒng)搭建(三十二)- 總結(jié)與展望
非偏振分光鏡對(duì)橢偏儀的影響(一)-系統(tǒng)原理
橢偏儀在位表征電化學(xué)沉積的系統(tǒng)搭建(二十九)- 能級(jí)壽命和電導(dǎo)率
橢偏儀與偏振相位(八)- 利用消光式橢偏儀測(cè)量波片相位延遲量實(shí)驗(yàn)
橢偏儀在位表征電化學(xué)沉積的系統(tǒng)搭建(二十六)- 沉積體系建模擬合
橢偏儀與偏振相位(五)-相位延遲量測(cè)量的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)
橢偏儀在位表征電化學(xué)沉積的系統(tǒng)搭建(二十二)- 沉積前裝置的橢偏數(shù)據(jù)
橢偏儀與偏振相位(二)-光譜掃描法的原理及誤差分析
橢偏儀在位表征電化學(xué)沉積的系統(tǒng)搭建(十九)- 圓形微流腔體
橢偏成像技術(shù)(八)橢偏成像技術(shù)的未來(lái)展望
橢偏儀在位表征電化學(xué)沉積的系統(tǒng)搭建(十六)- 可行性分析
橢偏成像技術(shù)(五)光譜橢偏成像的發(fā)展(第三部分)
橢偏儀在位表征電化學(xué)沉積的系統(tǒng)搭建(十三)- 形貌及成分
光譜型橢偏儀的校準(zhǔn)(七)-橢偏儀校準(zhǔn)方案
橢偏儀在位表征電化學(xué)沉積的系統(tǒng)搭建(十)- 研究?jī)?nèi)容和意義
橢偏儀(六)-橢偏儀數(shù)據(jù)處理模型-第二部分
橢偏儀在位表征電化學(xué)沉積的系統(tǒng)搭建(七)- 當(dāng)前在位監(jiān)測(cè)裝置設(shè)計(jì)
橢偏儀(一)-橢偏成像技術(shù)簡(jiǎn)介
橢偏儀(九)-橢偏光譜技術(shù)的應(yīng)用
橢偏儀在位表征電化學(xué)沉積的系統(tǒng)搭建(四)-電化學(xué)沉積及原理
光譜型橢偏儀的校準(zhǔn)(三)-空氣測(cè)量法
橢偏儀(二)-光在各向同性且均勻的界面反射原理
橢偏儀在位表征電化學(xué)沉積的系統(tǒng)搭建(一)-基本原理
橢偏成像技術(shù)(一)-橢偏成像的發(fā)展
非偏振分光鏡對(duì)橢偏儀的影響(三)-NPBS1與NPBS1引入的誤差分析
橢偏儀在位表征電化學(xué)沉積的系統(tǒng)搭建(三十一)- 單波長(zhǎng)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)
橢偏儀與偏振相位(十)- 儀器矩陣的非線性小二乘擬合定標(biāo)原理
橢偏儀在位表征電化學(xué)沉積的系統(tǒng)搭建(二十八)- 中心能量的演變
橢偏儀與偏振相位(七)- 波片相位延遲量測(cè)量誤差分析
橢偏儀在位表征電化學(xué)沉積的系統(tǒng)搭建(二十五)- 全波段沉積過(guò)程的準(zhǔn)在位測(cè)試分析-介電常數(shù)
橢偏儀與偏振相位(四)-光強(qiáng)測(cè)量法的原理及誤差分析
橢偏儀在位表征電化學(xué)沉積的系統(tǒng)搭建(二十一)- 不同沉積條件CU20制備
橢偏儀與偏振相位(一)-幾種波片相位延遲測(cè)量的實(shí)驗(yàn)搭建
橢偏儀在位表征電化學(xué)沉積的系統(tǒng)搭建(十八)- Pb薄膜沉積實(shí)驗(yàn)
橢偏成像技術(shù)(七)橢偏成像技術(shù)在生物學(xué)的應(yīng)用以及數(shù)據(jù)處理
橢偏儀在位表征電化學(xué)沉積的系統(tǒng)搭建(十五)- 弧形電解池的設(shè)計(jì)
橢偏成像技術(shù)(四)光譜橢偏成像的發(fā)展(第二部分)
橢偏儀在位表征電化學(xué)沉積的系統(tǒng)搭建(十二)- 光學(xué)常數(shù)的提取與COMSOL Multiphysics
光譜型橢偏儀的校準(zhǔn)(六)-樣片的均勻性考核
橢偏儀在位表征電化學(xué)沉積的系統(tǒng)搭建(九)- 光學(xué)模型的建立與數(shù)據(jù)的提取
藍(lán)寶石和石英石板小雙折射的測(cè)量
橢偏儀(七)-橢偏儀數(shù)據(jù)處理模型-第三部分
橢偏儀在位表征電化學(xué)沉積的系統(tǒng)搭建(六)- 在位監(jiān)測(cè)電化學(xué)沉積
橢偏儀(五)-橢偏儀數(shù)據(jù)處理模型-第1部分
橢偏儀(四)-系統(tǒng)成像原理
橢偏儀在位表征電化學(xué)沉積的系統(tǒng)搭建(三)-應(yīng)用案例
光譜型橢偏儀的校準(zhǔn)(四)-樣片測(cè)量法
橢偏儀與偏振相位(十二)-斯托克斯橢偏儀的偏振定標(biāo)實(shí)驗(yàn)結(jié)果與結(jié)論
橢偏成像技術(shù)(三)- 光譜橢偏成像的發(fā)展
非偏振分光鏡對(duì)橢偏儀的影響(二)-NPBS引入的橢偏參數(shù)誤差
橢偏儀在位表征電化學(xué)沉積的系統(tǒng)搭建(三十)- 厚度的演變-層狀模型
橢偏儀與偏振相位(九)- 傳統(tǒng)的儀器偏振定標(biāo)的誤差
橢偏儀在位表征電化學(xué)沉積的系統(tǒng)搭建(二十七)- 介電常數(shù)的演變
雙折射測(cè)量技術(shù)介紹
雙光子衍射光學(xué)元件成像
CD酶標(biāo)儀靈敏度-使用蛋白質(zhì)的檢測(cè)限制
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