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非偏振分光鏡對(duì)橢偏儀的影響(一)-系統(tǒng)原理

發(fā)布時(shí)間:2023-11-28 10:32:14 瀏覽量:2325 作者:Alex

摘要

橢圓偏振測(cè)量?jī)x是目前zui重要的薄膜測(cè)試工具之一。其中苛萎,干涉式橢偏測(cè)量?jī)x具有測(cè)量速度快桨昙、抗干擾能力強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn),是目前國(guó)內(nèi)外研究熱點(diǎn)之一腌歉。本文提出了一種新型激光外差干涉橢偏測(cè)量術(shù)用于實(shí)現(xiàn)納米級(jí)精度的薄膜厚度測(cè)量蛙酪。

正文


非偏振分光鏡對(duì)橢偏儀的影響(一)-系統(tǒng)原理


Hazebroek等人于1973年首次提出了干涉式橢偏測(cè)量的概念,針對(duì)其中存在的問(wèn)題翘盖,有人提出了使用塞曼激光和光調(diào)制的系統(tǒng)設(shè)計(jì)桂塞,還有人提出采用電光調(diào)制和波長(zhǎng)調(diào)制半導(dǎo)體激光器的方案。Watkins采用壓電晶體振蕩的方法產(chǎn)生拍頻馍驯,實(shí)驗(yàn)測(cè)量了SiO2膜阁危,zui佳測(cè)量不確定度可達(dá)360pm。以上理論研究和實(shí)驗(yàn)表明汰瘫,干涉式橢偏測(cè)量技術(shù)對(duì)于實(shí)時(shí)狂打、快速薄膜測(cè)量有很好的應(yīng)用價(jià)值與市場(chǎng)潛力,但外差干涉測(cè)量中存在的非線性誤差是阻礙該技術(shù)實(shí)際應(yīng)用的主要原因混弥。外差干涉測(cè)量系統(tǒng)中的非線性誤差一直是國(guó)內(nèi)外研究熱點(diǎn)趴乡,研究人員對(duì)激光源、偏振分光鏡蝗拿、波片晾捏、反射鏡等誤差源開(kāi)展了很多研究工作,并取得了許多有意義的研究成果哀托,提出了多種非線性誤差測(cè)量與補(bǔ)償?shù)姆椒ǖ胄痢T诩す飧缮鏈y(cè)量非線性誤差研究中,偏振分光鏡(Polarizing beam splitter仓手,PBS)一直是研究的重點(diǎn)胖齐,而對(duì)于非偏振分光鏡(Nonpolarizing Beam Splitter,NPBS)引入的非線性誤差俗或,國(guó)內(nèi)外一直缺乏相應(yīng)的研究市怎。Hou等人在邁克爾遜式外差干涉位移測(cè)量實(shí)驗(yàn)中,觀測(cè)到NPBS引入的測(cè)量誤差辛慰,并發(fā)現(xiàn)采用不同激光源区匠,位移非線性誤差約為1.6~2.2nm,但是各種論文沒(méi)有給出相應(yīng)的理論分析以及NPBS對(duì)誤差的影響機(jī)理。


本文針對(duì)基于橫向塞曼激光器的馬赫-曾德?tīng)柾獠罡缮鏅E偏測(cè)量系統(tǒng)驰弄,采用瓊斯矢量法麻汰,首次研究了多層介質(zhì)膜NPBS的退偏效應(yīng)、方位角對(duì)測(cè)量精度的影響戚篙。


系統(tǒng)原理


馬赫-曾德?tīng)柛缮媸綑E偏儀原理如圖1所示五鲫。其中,HWP為半波片岔擂,M為反射鏡位喂,Ds和Dp為探測(cè)器。橫向塞曼激光器輸出雙頻正交線偏振光乱灵,頻差W=W2-W1塑崖。經(jīng)過(guò)PBS1分成測(cè)量光束W1參考光束W2,測(cè)量光束被薄膜兩次反射后痛倚,在NPBS2與參考光束合光干涉规婆,由PBS2分成p,s兩路外差干涉信號(hào)蝉稳。比較探測(cè)器輸出的拍頻信號(hào)幅值和相位差可得到橢偏參數(shù)抒蚜。其中,半波片使得光束偏振方向旋轉(zhuǎn)45°耘戚,這樣p嗡髓,s分量近似等強(qiáng)入射到薄膜樣品,可提高干涉調(diào)制度毕莱。


圖1光學(xué)系統(tǒng)原理圖


橫向塞曼激光器的輸出可以表示為:



其中:a1和a2代表初始相位器贩。系統(tǒng)的瓊斯響應(yīng)可以表示為:



其中,下標(biāo)R和T分別代表反射和透射朋截,P,H吧黄,B部服,MS分別表示PBS、半波片拗慨、NPBS廓八、反射鏡和薄膜樣品的瓊斯矩陣,如式(3)所示赵抢。


將式(1)剧蹂,(3)和(4)帶入式(2)可得:



忽略不影響結(jié)果的常數(shù)項(xiàng),可得兩路外差信號(hào)的光強(qiáng)如下式所示:



比較式(6)中兩路信號(hào)的幅值和相位烦却,可得橢偏參數(shù)對(duì)(宠叼,△),如式(7)所示,從而反演出薄膜厚度和折射率冒冬。



測(cè)試樣品為單層ITO膜伸蚯,采用原子力顯微鏡標(biāo)定,厚度為120.1nm简烤,實(shí)驗(yàn)存在5nm的膜厚測(cè)量誤差剂邮。其中,PBS的非理想和激光源輸出偏振態(tài)畸變會(huì)引入混頻非線性誤差横侦,而NPBS也是一個(gè)重要的誤差源挥萌。


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相關(guān)文獻(xiàn):

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