本文采用了半導(dǎo)體熱氧化工藝制備膜厚標(biāo)準(zhǔn)樣片榕茧,該樣片使用4寸硅晶圓片制備。在制備完成后我們還需要對(duì)樣片進(jìn)行穩(wěn)定性和均勻性的考核客给。
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光譜型橢偏儀的校準(zhǔn)(五)-樣片的制備與穩(wěn)定性考核
樣片的制備
本文采用了半導(dǎo)體熱氧化工藝制備膜厚標(biāo)準(zhǔn)樣片用押,該樣片使用4寸硅晶圓片制備。由于硅晶圓片區(qū)域較大靶剑,為保證使用膜厚標(biāo)準(zhǔn)樣片校準(zhǔn)橢偏儀結(jié)果準(zhǔn)確蜻拨,在研制的膜厚樣片上設(shè)計(jì)特殊圖形,標(biāo)記出膜厚標(biāo)準(zhǔn)樣片的測(cè)量區(qū)域桩引,其為標(biāo)準(zhǔn)樣片中心直徑為20mm的圓形區(qū)域缎讼,如下圖1所示。
圖1 膜厚樣片測(cè)量區(qū)域示意圖
膜厚標(biāo)準(zhǔn)樣片制備的具體工藝流程如下圖2所示阐污。
圖2 樣片制備流程工藝圖
在膜厚樣片的制備過(guò)程中休涤,需要嚴(yán)格控制二氧化硅薄膜生長(zhǎng)工藝參數(shù),以保證膜層的均勻性和穩(wěn)定性 笛辟,制備出的膜厚標(biāo)準(zhǔn)樣片如下圖3所示功氨。
圖3 制備的膜厚標(biāo)準(zhǔn)樣片
樣片的穩(wěn)定性考核實(shí)驗(yàn)
膜厚標(biāo)準(zhǔn)樣片作為一種標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì),其測(cè)量區(qū)域均勻性和穩(wěn)定性一定要好手幢。在樣片制備完成后捷凄,我們需要使用3臺(tái)同型號(hào)的光譜型橢偏儀對(duì)其測(cè)量區(qū)域的均勻性和穩(wěn)定性進(jìn)行了考核,取這3臺(tái)儀器測(cè)量結(jié)果的平均值來(lái)作為考核結(jié)果围来。
穩(wěn)定性是通過(guò)使用光譜型橢偏儀對(duì)膜厚樣片測(cè)量區(qū)域的5個(gè)位置每隔1個(gè)月測(cè)量一次跺涤,5個(gè)位測(cè)量結(jié)果的平均值作為一次穩(wěn)定性測(cè)量數(shù)據(jù),通過(guò)分析平均值的變化來(lái)確定膜厚標(biāo)準(zhǔn)樣片的穩(wěn)定性监透,在12個(gè)月內(nèi)對(duì)三種膜厚樣片分別進(jìn)行了12次的穩(wěn)定性考核桶错,樣片的穩(wěn)定性考核結(jié)果如下圖4所示。
圖4 膜厚樣片穩(wěn)定性考核結(jié)果
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