磁疇是磁性材料內(nèi)部的微觀(guān)磁化單元。鐵磁材料內(nèi)部自發(fā)磁化形成若干區(qū)域榆综，每個(gè)區(qū)域自發(fā)磁化至飽和妙痹，但不同區(qū)域的磁化強(qiáng)度分布是隨機(jī)的，相互抵消鼻疮，因此材料整體上不表現(xiàn)出宏觀(guān)磁性怯伊。
常見(jiàn)的觀(guān)測(cè)磁疇的方法
磁疇是磁性材料宏觀(guān)性質(zhì)的微觀(guān)映射。通過(guò)對(duì)磁疇結(jié)構(gòu)的了解判沟，可以深入了解磁性材料的性質(zhì)耿芹，從而更好地實(shí)現(xiàn)磁性材料的優(yōu)化和應(yīng)用。通過(guò)對(duì)磁疇結(jié)構(gòu)的觀(guān)察挪哄，可以更直接地了解和分析磁疇吧秕。目前，觀(guān)察磁疇結(jié)構(gòu)的方法很多迹炼，如貝特粉圖法砸彬、磁光效應(yīng)法、X射線(xiàn)衍射法疗涉、磁力顯微鏡拿霉、電子顯微鏡、中子斷層掃描等咱扣。
（１）貝特粉末圖紋法
貝特粉末圖紋法是較早的磁疇觀(guān)察方法绽淘，也是較簡(jiǎn)單的磁疇觀(guān)察方法。 是在磁性材料表面涂上足夠細(xì)的鐵磁粉懸浮膠闹伪，然后鐵磁粉在磁疇結(jié)構(gòu)產(chǎn)生的局部雜散磁場(chǎng)的作用下沪铭，分布成一定的圖案，而這些圖案反映材料的表面偏瓤。通過(guò)普通光學(xué)顯微鏡可以直接觀(guān)察樣品的磁疇結(jié)構(gòu)和圖案杀怠。同時(shí)可以對(duì)材料施加磁場(chǎng)，觀(guān)察在磁場(chǎng)作用下磁疇結(jié)構(gòu)的變化厅克。貝特粉圖法的分辨率受鐵磁粉粒徑等因素的限制赔退，因此存在分辨率低的缺點(diǎn)。但由于該法設(shè)備簡(jiǎn)單，適用范圍廣硕旗，是一種沿用已久的觀(guān)察法窗骑。
（２）磁力顯微鏡法
磁力顯微鏡觀(guān)察磁疇主要是通過(guò)磁探針與磁疇產(chǎn)生的局部雜散磁場(chǎng)相互作用產(chǎn)生的磁力梯度分布來(lái)檢測(cè)磁性材料的磁疇。磁力顯微鏡觀(guān)察到的磁疇分辨率可達(dá)10nm漆枚，是目前能達(dá)到的較高磁分辨率创译。然而，磁力顯微鏡主要依靠磁性探針與樣品磁疇的相互作用墙基，探針的磁性可能會(huì)受到強(qiáng)磁性材料的磁性或弱磁性材料的磁性的影響软族。該區(qū)域的磁疇觀(guān)察無(wú)法觀(guān)察到磁疇在外場(chǎng)作用下的動(dòng)態(tài)變化，因此磁力顯微鏡的應(yīng)用范圍相對(duì)有限残制。
（３）Ｘ射線(xiàn)衍射法
X射線(xiàn)衍射觀(guān)察磁疇是根據(jù)相鄰磁疇磁致伸縮應(yīng)變的差異立砸，通過(guò)測(cè)量晶格間距變化引起的布拉格反射角的變化來(lái)確定磁疇結(jié)構(gòu)。X射線(xiàn)衍射法的優(yōu)點(diǎn)是分辨率比較高初茶，可以在觀(guān)察磁疇的同時(shí)觀(guān)察晶體的缺陷仰禽，從而可以研究晶體曲線(xiàn)與磁疇結(jié)構(gòu)的關(guān)系。但該方法也存在成本高纺蛆、無(wú)法檢測(cè)外場(chǎng)作用下磁疇動(dòng)態(tài)變化等缺點(diǎn)。
（４）電子顯微鏡法
電子顯微鏡主要是通過(guò)分析電子束在磁性材料表面反射或通過(guò)磁性時(shí)规揪，磁性材料中磁疇產(chǎn)生的局部雜散磁場(chǎng)所產(chǎn)生的反射或散射電子束的圖像來(lái)檢測(cè)磁性材料的磁疇桥氏。電子顯微鏡根據(jù)具體的工作原理可分為多種類(lèi)型。目前猛铅，磁疇觀(guān)察常用電子鏡顯微鏡字支、洛倫茲顯微鏡和掃描電子顯微鏡。 電子顯微鏡具有很高的分辨率奸忽，因此可以研究疇壁等磁疇的精細(xì)結(jié)構(gòu)堕伪，可以探測(cè)到更多的磁疇信息，但對(duì)強(qiáng)磁場(chǎng)下磁疇的動(dòng)態(tài)變化分辨率較低栗菜，且設(shè)備成本高欠雌，操作十分復(fù)雜，不能廣泛應(yīng)用于磁疇結(jié)構(gòu)的研究疙筹。
（５）磁光克爾效應(yīng)法
磁光克爾效應(yīng)法主要是根據(jù)光與磁性物質(zhì)相互作用產(chǎn)生的磁光克爾響應(yīng)信號(hào)來(lái)觀(guān)察磁疇富俄。當(dāng)光從磁性材料表面反射時(shí)，在磁疇表面產(chǎn)生的局部雜散磁場(chǎng)的作用下而咆，反射光的偏振態(tài)會(huì)發(fā)生一定程度的變化霍比，偏振態(tài)的變化 反射光的狀態(tài)與局部雜散磁場(chǎng)的大小和方向有關(guān)。反射光通過(guò)檢偏器后暴备，偏振態(tài)的變化會(huì)以光強(qiáng)分布的形式呈現(xiàn)悠瞬，然后被成像系統(tǒng)接收后，即可得到磁性材料表面的磁疇結(jié)構(gòu)分布。磁光克爾成像在觀(guān)察磁疇時(shí)不僅可以實(shí)現(xiàn)高空間分辨率浅妆，還可以實(shí)現(xiàn)高時(shí)間分辨率望迎，因此可用于實(shí)時(shí)觀(guān)察磁性材料在外場(chǎng)作用下磁疇結(jié)構(gòu)的動(dòng)態(tài)變化。
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