當(dāng)光打在某些物質(zhì)上時(shí)阵幸，電子會吸收光子能量然后脫離正電荷的束縛飛出，這種現(xiàn)象被稱之為光電效應(yīng)芽世，所逸出電子形成的電流被稱為
光電流挚赊，即光生電。
當(dāng)光打在某些物質(zhì)上時(shí)，電子會吸收光子能量然后脫離正電荷的束縛飛出旺矾，這種現(xiàn)象被稱之為光電效應(yīng)蔑鹦，所逸出電子形成的電流被稱為
光電流，即光生電箕宙。
Mapping是一種顯微成像技術(shù)嚎朽，一般用于研究物質(zhì)的微結(jié)構(gòu)組成，最早應(yīng)用Mapping的是顯微光譜成像柬帕，用于研究樣品微結(jié)構(gòu)上的光
譜哟忍，從而掌握樣品的結(jié)構(gòu)組成與物質(zhì)組分狡门。將激光通過無限遠(yuǎn)物鏡聚焦到樣品表面，由于激光經(jīng)過物鏡聚焦之后光斑直徑可以達(dá)到僅有
幾個(gè)微米大小锅很，而只有激光照射的位置才會激發(fā)相應(yīng)的光譜信息其馏，因此可以通過共聚焦技術(shù)以及探測器采集并分析所激發(fā)的光譜，從而
確定激光所照射位置的物質(zhì)組分粗蔚。然后通過掃描振鏡控制激光聚焦光斑在樣品表面進(jìn)行移動尝偎，采集樣品被掃描區(qū)域各個(gè)位置的光譜信
息，從而為該樣品被掃描區(qū)域構(gòu)建出一張完整的光譜信息圖鹏控，此即為顯微光譜成像。
光電流成像（photocurrent Mapping）是一種將顯微掃描成像技術(shù)應(yīng)用于光電流檢測的技術(shù)肤寝，類似于顯微光譜成像当辐，可以檢測樣品微
觀區(qū)域中光電流強(qiáng)度的分布，為樣品被掃描區(qū)域構(gòu)建出完整的光電流強(qiáng)度信息圖鲤看，主要用于分析材料的分布缘揪、構(gòu)成與組分。我司代理的
XperRam Photocurrent光電測試系統(tǒng)在40倍物鏡下可以達(dá)到200微米*200微米的掃描范圍义桂。
如上圖所示找筝，為我司代理的XperRam Photocurrent光電測試系統(tǒng)光路圖，綠色線條為激光光路慷吊。激光通過反射鏡袖裕、濾波片、振鏡溉瓶、擴(kuò)
束系統(tǒng)急鳄、反射鏡、顯微物鏡后聚焦在樣品表面堰酿，樣品在激光照射下產(chǎn)生光電流疾宏，電流值通過探針被數(shù)字源表讀出并被軟件記錄。而掃描
控制器scanner會控制振鏡在X和Y方向偏轉(zhuǎn)從而實(shí)現(xiàn)聚焦光斑在樣品表面進(jìn)行X和Y方向的高速掃描触创，從而樣品被掃描區(qū)域的每個(gè)位置
的光電流信息得以被探測并記錄坎藐，最終實(shí)現(xiàn)光電流成像。
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