磁光效應(yīng)成像主要是利用克爾效應(yīng)產(chǎn)生的克爾轉(zhuǎn)角來表現(xiàn)的，這是因?yàn)闄E偏率無法在實(shí)空間圖像上直接體現(xiàn)卖丸，所以通常無法用來直觀表現(xiàn)磁疇的圖象纺且。
磁光克爾成像系統(tǒng)
對(duì)于大部分材料，尤其是磁性金屬材料來說稍浆，光在其中衰減得很快载碌，穿透深度非常有限，更不必說一般的磁性薄膜材料還有毫米厘米尺度的硅襯底衅枫。這就導(dǎo)致了法拉第效應(yīng)在磁疇成像方面上并沒有實(shí)際應(yīng)用能力可言嫁艇。因此，利用偏振光在磁 性樣品表面反射后偏振面的偏轉(zhuǎn)來對(duì)磁疇圖象進(jìn)行表征弦撩，是磁光效應(yīng)成像的唯yi選擇步咪。
同時(shí)，由于極向克爾效應(yīng)的成像效果好益楼，垂直磁各向異性較強(qiáng)的樣品具有 更廣闊的應(yīng)用潛力猾漫。基于克爾效應(yīng)感凤，可以動(dòng)態(tài)觀察磁性樣品磁疇變化的儀器叫作克爾顯微鏡 (Kerr microscope) 悯周，有別于SMOKE 裝置通常使用激光作為光源，出于便于成像的考慮俊扭，克爾顯微鏡一般使用高亮度的LED光源队橙，同時(shí)配備不同放大倍數(shù)的光學(xué)顯微鏡鏡頭，在使用白光光源的情況下適用于1-100μm尺度范圍的磁疇的成像萨惑。主要是利用偏轉(zhuǎn)后反射光光強(qiáng)的變化來反映不同朝向的磁矩在空間上的分布捐康。從不同的磁疇表面反射回來的光，由于不同磁疇中磁矩排布方向的不同以及磁疇的磁化強(qiáng)度的相對(duì)強(qiáng)弱不同庸蔼，從樣品表面不同位置反射回來的克爾信號(hào)的大小也不盡相同且包含了磁疇的信息解总。反射光在經(jīng)過檢偏器回到目鏡及相機(jī)后，表現(xiàn)為光強(qiáng)在空間上的分布的圖像姐仅，即不同的位置亮暗不同花枫，亮暗的分布就反映了磁疇空間分布的情況。在克爾圖像中掏膏，較亮的區(qū)域?yàn)榇啪匮卮怪奔埫嫦蛏戏较蚺挪嫉拇女犂秃玻^暗的區(qū)域則為磁矩沿垂直紙面向下方向排布的磁疇。
磁光克爾顯微鏡可同時(shí)具有橫向馒疹，縱向和極向克爾成像功能佳簸；克爾成像靈敏度不低于3個(gè)磁性原子層，即能檢測(cè)厚度至少為0.6nm的磁性薄膜的磁性變化颖变；配備了5倍物鏡生均、20倍物鏡和100倍物鏡，其中腥刹，100倍物鏡數(shù)值孔徑NA0.8马胧，工作距 離約3.4mm；同時(shí)配備了面內(nèi)及垂直兩個(gè)方向的磁場(chǎng)衔峰，其中佩脊，面內(nèi)磁場(chǎng)zui大值 0.8T，垂直磁場(chǎng)zui大值0.5T垫卤，且兩個(gè)方向上的磁場(chǎng)可以同時(shí)施加邻吞；并且能夠施加微秒、毫秒級(jí)別脈寬的幅值z(mì)ui大為60mT的垂直于樣品方向的磁場(chǎng)脈沖葫男。
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