中文：物鏡嚷兔；英文：objective lens

光學(xué)元件，如物鏡做入，可以在磁場存在的情況下引起法拉第旋轉(zhuǎn)冒晰，這種旋轉(zhuǎn)會疊加在由樣品磁性引起的任何光旋轉(zhuǎn)上。如果您對磁學(xué)測量有興趣母蛛，請訪問上海昊量光電的官方網(wǎng)頁：http://www.wjjzl.com/three-level-150.html更多詳情請聯(lián)系昊量光電/歡迎直接聯(lián)系昊量光電關(guān)于昊量光電：上海昊量光電設(shè)備有限公司是光電產(chǎn)品專業(yè)代理商翩剪，產(chǎn)品包括各類激光器、光電調(diào)制器彩郊、光學(xué)測量設(shè)備前弯、光學(xué)元件等，涉及應(yīng)用涵蓋了材料加工秫逝、光通訊恕出、生物醫(yī)療、科學(xué)研究违帆、國防浙巫、量子光學(xué)、生物顯微、物聯(lián)傳感的畴、激光制造等渊抄；可為客戶提供完整的設(shè)備安裝，培訓(xùn)丧裁，硬件開發(fā)护桦，軟件開發(fā)，系統(tǒng)集成等服務(wù)煎娇。您可以通過我們昊量 ...

實(shí)現(xiàn)的二庵。由于物鏡的傾斜，只有一小片樣品被聚焦缓呛，該區(qū)域由光學(xué)系統(tǒng)的景深確定催享。磁性試樣的過焦和過焦可以通過使物鏡遠(yuǎn)離照明軸傾斜從而在相機(jī)傳感器處獲得聚焦圖像的方式來克服。因此哟绊，所得到的樣品圖像因妙，然后由于本質(zhì)上不同的放大系數(shù)在顯微鏡的視野扭曲。這一問題可以通過實(shí)時成像處理來糾正圖像透視失真來消除票髓。通過使用遠(yuǎn)心鏡頭和Scheimpflug相機(jī)支架兰迫，可以實(shí)現(xiàn)整個視場的恒定放大率和恒定焦距。一個優(yōu)化的遠(yuǎn)心克爾顯微鏡系統(tǒng)的原理草圖如圖1a所示炬称。即使在觀測軸強(qiáng)烈傾斜的情況下汁果，也能獲得零畸變磁圖像。得到的域圖像仍然被垂直于光入射平面的壓縮玲躯，并且需要進(jìn)行線性運(yùn)算以獲得均衡的圖像映射据德。典型的應(yīng)用來自磁電復(fù)合懸臂式傳 ...

由于顯微鏡的物鏡必須放置在離樣品表面非常近的地方(高倍率透鏡的距離在幾百微米之間，低倍率物鏡的距離在幾毫米之間)跷车，施加的磁場可能會誘發(fā)寄生法拉第效應(yīng)棘利，這種效應(yīng)疊加在由樣品磁性引起的任何光旋轉(zhuǎn)上[見圖1(b)]。這種效應(yīng)對于沿物鏡軸施加的磁場是重要的朽缴，但是從樣品中出現(xiàn)的不均勻的面內(nèi)場或雜散場也可能在透鏡中產(chǎn)生法拉第旋轉(zhuǎn)這樣的貢獻(xiàn)可能會降低域圖像的質(zhì)量善玫，導(dǎo)致對實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的誤解，或給矢量克爾顯微鏡帶來實(shí)質(zhì)性的錯誤密强。法拉第效應(yīng)zui嚴(yán)重的影響發(fā)生在克爾顯微鏡中茅郎，通過繪制圖像的整個或局部選定區(qū)域的強(qiáng)度作為磁場的函數(shù)(MOKE磁強(qiáng)計)來測量MOKE磁化回路。高度扭曲的循環(huán)可能會出現(xiàn)或渤，如下面的各種例子所示系冗。基 ...

激波長反射到物鏡薪鹦，物鏡將光束集中到標(biāo)本上掌敬。從標(biāo)本反 射的光集中在物鏡中惯豆，在其激發(fā)態(tài)通常具有比入射光更高的波長。通過二向色鏡奔害，反射光通過發(fā)射濾光片并降低到發(fā)射波長楷兽。尚未在二向色鏡處停止的刺激光的殘留物在發(fā)射濾光片處被過濾掉。理想情況下华临，只有發(fā)射光撞擊顯微鏡內(nèi)置的檢測器拄养，并以相應(yīng)的顏色可見。好的測量結(jié)果需要均勻的照明银舱，尤其是當(dāng)需要幾微米或幾毫米的大視野時。在不均勻照明的情況下跛梗，例如寻馏，可能發(fā)生待檢查分子的不均勻激活。結(jié)果：中心的分子比入射照明光束外圍的分子發(fā)出更強(qiáng)烈的熒光核偿。如果周邊沒有與中心等同地照亮诚欠，則當(dāng)單獨(dú)記錄的圖像網(wǎng)格稍后合并時，陰影繼續(xù)出現(xiàn)漾岳。因此轰绵，細(xì)胞和組織樣本等測量不能用于可靠的分析。這些 ...

使用100倍物鏡沿光學(xué)z軸在不同平面拍攝的暗場圖像尼荆。焦平面位于（a）玻璃基底表面（S點(diǎn)）或（b）人類乳腺癌細(xì)胞的頂部表面或細(xì)胞內(nèi)部（C點(diǎn)）[1]左腔。與華盛頓大學(xué)的David Ginger教授合作，使用Photon etc.公司的高光譜暗場成像儀對100納米的AuNPs進(jìn)行了研究捅儒。從432nm到849nm以3nm的步長獲取了散射數(shù)據(jù)液样。圖2（a）和（b）顯示了高光譜結(jié)果和從數(shù)據(jù)中提取的典型散射光譜（c）。波長的變化有助于確定顆粒的大小巧还，空間信息有助于評估顆粒的分布鞭莽。圖2、（a）從高光譜數(shù)據(jù)中提取的576nm暗場圖像麸祷；（b）放大了提取光譜的區(qū)域澎怒；（c）提取的散射光譜。二阶牍、使用IMA獲得的結(jié)果在蒙特利爾 ...

）喷面。在顯微鏡物鏡下的整個視場被激發(fā)，同時收集來自百萬個點(diǎn)的PL信號走孽。圖2（a）和（b）顯示了CIGS微電池的PL和EL圖像乖酬。通過結(jié)合其光譜分辨的PL和EL圖以及光度絕對校準(zhǔn)方法，研究人員可以使用廣義普朗克定律來提取與電池zui大電壓直接相關(guān)的準(zhǔn)費(fèi)米能級分裂（Δμeff）（見圖1（c）和（d））融求。借助太陽能電池和LED之間的互易關(guān)系咬像，可以從EL圖像中推導(dǎo)出外部量子效率（EQE）。在樣品的整個表面上獲得微米級的基本特性有助于改進(jìn)制造工藝，從而達(dá)到更高的電池效率县昂。圖2.（a）集成PL發(fā)射和（b）集成EL發(fā)射的高光譜圖像肮柜。使用廣義普朗克定律，可以推導(dǎo)出（c）和（d）Δμeff映射倒彰。改編自[3]审洞。了解更 ...

軸壓電平臺芒澜、物鏡掃描臺、快速反射鏡创淡。X軸產(chǎn)品圖片Z軸產(chǎn)品圖片一維掃描平臺一維快反鏡2.PIEZOCONCEPT兩軸位移平臺兩軸壓電平臺可以提供兩個維度上的平移或偏轉(zhuǎn)痴晦，主要包括XY二維壓電納米位移臺和二維快反鏡。XY軸壓電平臺二維快反鏡3.PIEZOCONCEPT三軸位移平臺XYZ軸壓電平臺4. PIEZOCONCEPT位移臺獨(dú)特優(yōu)勢昊量光電推出“PIEZOCONCEPT”高精度單軸琳彩、雙軸誊酌、三軸納米級壓電位移臺、物鏡掃描臺露乏、快反鏡系列產(chǎn)品碧浊；該壓電平臺以壓電陶瓷為驅(qū)動，采用了柔性鉸鏈連接的方法瘟仿，具備精確導(dǎo)向性箱锐、高穩(wěn)定性、高抗疲勞性的特點(diǎn)劳较，同時搭配高精度硅基位移傳感器瑞躺、16Bit高分辨率高速控制器， ...

式兴想、油性幢哨；水物鏡，每次小于20分鐘儲存條件：室溫（10-40℃）和正常相對濕度（20-70%RH）成像兼容性：除基于耗盡技術(shù)和多光子成像以外的任何基于熒光的成像損傷閾值：50GW/cm2輻照度（峰值或者平均功率）功率測量：10uW-100mW嫂便，可實(shí)時測量可用波長：350nm-1100nm可兼容延時拍攝捞镰。載玻片圖案：關(guān)于生產(chǎn)商：Argolight是一家法國的公司，專注于成像質(zhì)量的控制毙替，他們與300多家公司岸售、高校、科研院所保持良好合作厂画。如果您對熒光顯微鏡校準(zhǔn)載玻片有興趣凸丸，請訪問上海昊量光電的官方網(wǎng)頁：http://www.wjjzl.com/three-level-368.html更多 ...

導(dǎo)磁鐵)內(nèi)的物鏡。然后袱院，從樣品(S)反射的光束通過圓偏振收集光學(xué)元件(QWP和LP)屎慢，用長通濾光片(LPass)過濾瞭稼，然后聚焦到光纖上，該光纖通向帶有CCD相機(jī)(Andor)的750毫米光譜儀腻惠。采用可調(diào)諧連續(xù)波光源進(jìn)行光激發(fā)环肘。圖1.a)是極化PL設(shè)置。在輸入端和輸出端分別加一個短通(SPass)和長通(LPass)來降低泵浦激光噪聲集灌。在收集方面悔雹，光纖可以通向光譜儀或單光子計數(shù)器。泵浦探針時間分辨裝置b)有一個FM(翻轉(zhuǎn)鏡)欣喧，可用于在TR(光電二極管)和TRKR(平衡光電二極管)測量之間切換腌零。S是樣本的縮寫。所有的時間分辨測量都是在Quantum Design的OptiCool的測試版中完成的( ...

構(gòu)唆阿。激光束經(jīng)物鏡益涧、針孔、準(zhǔn)直透鏡準(zhǔn)直酷鸦，參考光學(xué)平面與準(zhǔn)直光束垂直，并采用光楔或減反射膜系來抑制它的背面反射牙咏。參考和測量面間的干涉條紋經(jīng)電視攝像機(jī)來探測臼隔。分束器或λ/4波片以及偏振分束器用來引導(dǎo)光束入射于電視攝像機(jī)上。這種斐索干涉儀妄壶，需要采用長焦距的準(zhǔn)直透鏡來獲得高的精度摔握。干涉條紋函數(shù)I(x,y)：式中，I丁寄。為背景光強(qiáng)度氨淌；y(x,y)為條紋調(diào)制函數(shù)；φ(x,y)為被測條紋的位相分布函數(shù)伊磺；φ盛正。為參考面與測量面間光程差引起的初位相.為了從干涉條紋函數(shù)中獲得位相分布函數(shù)φ(x,y),采用了相移法。相移時屑埋，條紋位相隨著光程或波長變化而發(fā)生移動豪筝。當(dāng)給定附加相移φi，干涉條紋函數(shù)I(x,y)為:理論上摘能，為了 ...